描述：

日立TM3030Plus掃描電子顯微鏡，實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備，功能正常，性能穩(wěn)定，帶原裝軟件，適合材料科學(xué)、納米技術(shù)、表面分析等科研和檢測場景。設(shè)備成色幾乎全新，外觀保存很好，只有輕微使用痕跡，具體參數(shù)和配置可私聊。

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