描述：

供應 Keysight N7788C 光器件分析儀 1240 n 至 1650 nm 工作波長范圍

Keysight N7788C 光器件分析儀

主要特性與技術指標

單次掃描中的通牒高精度。無需進行多次掃描并計算平均值

對元器件的光路徑長度沒有限制

1240 nm 至 1650 nm 工作波長范圍

1 MHz 大采樣率

0 ps 至 1000 ps DGD 測量范圍

0 ps 至 300 ps PMD 測量范圍

1.5° SOP 測量不確定度

±2% DOP 測量不確定度

描述

N7788C 光器件分析儀可在一臺儀器中同時提供偏振控制和分析功能,因而能夠在實驗室中靈活使用。尤其是,N7788C 能夠與可調(diào)諧激光源結合使用,測量光元器件如何改變信號的 SOP。該測量以廣義標準瓊斯矩陣本征分析法(JME)為基礎,使用 的單次掃描偏振相關方法來確定參數(shù)偏振模色散(PMD)或差分群時延(DGD)以及偏振相關損耗(PDL)。

N7788C 與可調(diào)諧激光源和新的 N7700 軟件引擎結合使用,能夠對這些偏振相關損耗和色散進行光譜測量。

可提供的測量參數(shù)包括:

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