描述：

特點(diǎn)

優(yōu)勢(shì)

超低噪聲(6430 為 0.4fA p-p ,6517B 和 6514 <1fA) 確保對(duì)設(shè)備和材料研究中常見的超低電流實(shí)現(xiàn)更精確的測(cè)量。

高達(dá) 10 16 ? 的電阻測(cè)量 (6517B) 精確測(cè)量超高電阻材料和絕緣體。

遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號(hào)源 (6430) 允許直接或短暫連接到信號(hào)源,較大限度地減少電纜噪聲等噪聲源。

低輸入端壓降 消除影響低電流測(cè)量精度的誤差。

內(nèi)置 ±1kV 電壓源,提供掃描功能 (6517B) 簡(jiǎn)化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測(cè)試,以及對(duì)高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測(cè)量的過程。

適用于測(cè)量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測(cè)試盒 (6517B) 防止您接觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開測(cè)試盒蓋子時(shí)自動(dòng)關(guān)閉儀器的電壓源。

即使在低電平信號(hào)上也能實(shí)現(xiàn)高測(cè)量速度 支持更快的低電平元器件測(cè)試。

可編程數(shù)字 I/O 和內(nèi)置接口 簡(jiǎn)化構(gòu)建自動(dòng)化元器件測(cè)試系統(tǒng)的過程。

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