描述：

AQ6315C 出售 AQ6315E 光譜分析儀 OSA可在350至1750 nm

安藤 AQ6315A 安藤 AQ6315B 安藤 AQ6315C 安藤 AQ6315E 安藤 AQ6315A安藤 AQ6315B AQ6315C AQ6315E AQ6315E AQ6315E是眾所周知的Ando AQ6315A的改進版本。該OSA可在350至1750 nm范圍內進行光譜分辨率強度測量,波長精度優(yōu)于0.05 nm,并支持單通/雙通單色儀模式選擇。在單程單色儀模式下,它支持與以前型號相同的廣泛應用。在雙通單色儀模式下,動態(tài)范圍提高到-90dBm。該系統(tǒng)的靈敏度足以測量低至幾皮瓦的光強度,并且在一次測量中可以覆蓋七個數量級的動態(tài)范圍,允許同時觀察低強度和高強度信號,例如激光腔的自發(fā) 和激光發(fā)射。它有多種集成測量模式,從簡單的光吸收測量到全光放大器參數分析。該單元支持DWDM和其他光學設備(LD、LED、FBG等)的多種分析功能。該裝置具有以下規(guī)格:波長范圍:350-1750 nm分辨率:0.05 nm靈敏度:-65 dBm

此貼2028-07-31之前有效，聯系我時，請說明是從處理網看到的。