描述：

Keysight N7788C 光器件分析儀 回收

歐陽R:13537;;229325

Keysight N7788C 結(jié)合了偏振計(jì)和偏振控制器,適用于靈活的實(shí)驗(yàn)室使用,以及使用是德科技可調(diào)諧激光器的單掃描算法對光學(xué)元件和光纖進(jìn)行快速光譜 DGD/PMD 和 PDL 測量。

單次掃描中的高精度。無需進(jìn)行多次掃描并計(jì)算平均值

對元器件的光路徑長度沒有限制

1240 nm 至 1650 nm 工作波長范圍

1 MHz 大采樣率

0 ps 至 1000 ps DGD 測量范圍

0 ps 至 300 ps PMD 測量范圍

1.5° SOP 測量不確定度

±2% DOP 測量不確定度

N7788C 光器件分析儀可在一臺儀器中同時(shí)提供偏振控制和分析功能,因而能夠在實(shí)驗(yàn)室中靈活使用。尤其是,N7788C 能夠與可調(diào)諧激光源結(jié)合使用,測量光元器件如何改變信號的 SOP。該測量以廣義標(biāo)準(zhǔn)瓊斯矩陣本征分析法(JME)為基礎(chǔ),使用獨(dú)特的單次掃描偏振相關(guān)方法來確定參數(shù)偏振模色散(PMD)或差分群時(shí)延(DGD)以及偏振相關(guān)損耗(PDL)。

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