描述：

供應(yīng) Agilent N7788BD 光元器件分析儀1240 nm 至 1650 nm 工作波長范圍

Agilent N7788BD光元器件分析儀

主要特性與技術(shù)指標(biāo)的

主要優(yōu)點(diǎn)

單次掃描的準(zhǔn)確性 高:無需對多個(gè)掃描進(jìn)行平均

測量速度高測量速度

只需不到10秒即可在C / L波段完成完整測量(無需等待多次平均)

堅(jiān)固耐用的光纖運(yùn)動/振動和漂移

描述

Keysight Technologies借助N7788BD組件分析儀突破了組件測量的困難限。它的專有技術(shù)可與 的Jones-Matrix-Eigenanalysis(JME)相媲美,后者是測量光學(xué)設(shè)備的偏振模色散(PMD)或差分群時(shí)延(DGD)的標(biāo)準(zhǔn)方法。

是德科技的新型單次掃描技術(shù)可提供一系列優(yōu)勢來測試整套參數(shù):

DGD / PMD

PDL

功率/損耗

TE / TM損耗

2階PMD偏振的

主偏振態(tài)(PSP)

Jones和Mueller矩陣

專為制造車間而設(shè)計(jì)

高通量:在10秒鐘內(nèi)即可完成對C和L波段的完整分析

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